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Professor Advisordc.contributor.advisorMontes Atenas, Gonzalo
Authordc.contributor.authorLadrón de Guevara Martínez, Rodrigo Alexis
Associate professordc.contributor.otherValenzuela Lozano, Fernando
Associate professordc.contributor.otherVidela Leiva, Álvaro
Associate professordc.contributor.otherFlores Carrasco, Marcos
Associate professordc.contributor.otherVargas Valero, Tomás
Admission datedc.date.accessioned2025-01-24T16:06:13Z
Available datedc.date.available2025-01-24T16:06:13Z
Publication datedc.date.issued2024
Identifierdc.identifier.urihttps://repositorio.uchile.cl/handle/2250/203089
Abstractdc.description.abstractLa comprensión integral de un proceso que se basa en la modificación de las propiedades superficiales de los minerales, como la flotación de minerales, depende de una correcta caracterización de la superficie de los minerales involucrados. Actualmente, las técnicas utilizadas para este fin tienen una penetración en la partícula de aproximadamente 1 µm. Esto destaca la oportunidad de emplear técnicas más sensibles a la superficie externa de las partículas, entre las que sobresale la espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) por su versatilidad y facilidad de implementación. Sin embargo, debido a la novedad de esta técnica, no existe un protocolo estándar de preparación de muestras que garantice que la superficie más externa de los minerales no sea alterada posterior a la toma de muestras. El objetivo de este trabajo es evaluar cuantitativamente el impacto del protocolo de preparación de muestra sobre los resultados de especiación química vía XPS. Para ello, se realizaron experimentos a escala de laboratorio utilizando dos muestras minerales de calcopirita y pirita, exponiéndolas al protocolo habitual de preparación de muestras (caso 1) y a un protocolo de preparación de muestras bajo ambiente nitrogenado (caso 2). Luego de los procedimientos en calcopirita, se encontró una razón especies minerales/oxidadas de cobre elemental de 1:0.33 y 1:0.16 para los casos 1 y 2, respectivamente. Asimismo, se encontró un comportamiento consistente para la razón de minerales/óxidos de hierro elemental (1:3.60 y 1:3.50 para los casos 1 y 2, respectivamente) y de azufre elemental (1:0.25 y 1:0.12 para los casos 1 y 2, respectivamente). Esto indica un mayor grado de oxidación utilizando un secado de muestra convencional mediante hornos de secado de muestra. El comportamiento de la pirita muestra una tendencia distinta. Se obtiene una razón de minerales/óxidos de hierro de 1:1.27 y 1:1.38 para los casos 1 y 2, respectivamente. Esto se condice con la razón de minerales/óxidos de azufre de 1:0.11 y 1:0.15 para los casos 1 y 2, respectivamente. La alta sensibilidad de esta técnica hace necesaria una planificación minuciosa del protocolo de preparación de muestra, que tome en consideración los minerales involucrados y sus comportamientos particulares, con el fin de evitar la alteración de sus superficies luego de la toma de muestra.es_ES
Lenguagedc.language.isoeses_ES
Publisherdc.publisherUniversidad de Chilees_ES
Type of licensedc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States*
Link to Licensedc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/*
Títulodc.titleImpacto del protocolo de preparación de muestra en resultados de especiación química superficial utilizando espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS)es_ES
Document typedc.typeTesises_ES
dc.description.versiondc.description.versionVersión original del autores_ES
dcterms.accessRightsdcterms.accessRightsAcceso abiertoes_ES
Catalogueruchile.catalogadorchbes_ES
Departmentuchile.departamentoDepartamento de Ingeniería de Minases_ES
Facultyuchile.facultadFacultad de Ciencias Físicas y Matemáticases_ES
uchile.carrerauchile.carreraIngeniería Civil de Minases_ES
uchile.gradoacademicouchile.gradoacademicoMagisteres_ES
uchile.notadetesisuchile.notadetesisTesis para optar al grado de Magíster en Mineríaes_ES


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