Estudio de las propiedades electroquímicas de óxidos de vanadio preparados por pulverización catódica reactiva para su potencial aplicación como cátodos en baterías de litio
Professor Advisor
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Espinoza González, Rodrigo
Professor Advisor
dc.contributor.advisor
Flores Carrasco, Marcos
Author
dc.contributor.author
Briceño San Martín, Mackarena del Carmen.
Associate professor
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Akbarifakhrabadi, Ali
Associate professor
dc.contributor.other
Gracia Caroca, Francisco
Associate professor
dc.contributor.other
Lisoni Reyes, Judit
Associate professor
dc.contributor.other
Ruiz León, Domingo
Admission date
dc.date.accessioned
2025-06-11T15:23:38Z
Available date
dc.date.available
2025-06-11T15:23:38Z
Publication date
dc.date.issued
2024
Identifier
dc.identifier.uri
https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/205347
Abstract
dc.description.abstract
Se investigó el rol de los defectos en películas delgadas de óxido de vanadio amorfo (a-VOx) depositadas mediante pulverización catódica reactiva para su aplicación como cátodos en baterías de ion litio. Se estudio la incidencia de introducción de vacancias de oxígeno en el óxido metálico para su estudio electroquímico. Para lograr esto, las muestras se sometieron a un tratamiento en una atmósfera reductora para inducir vacancias de oxígeno en el óxido metálico, con el objetivo de mejorar la estabilidad estructural.
Se identificaron las condiciones para la deposición de a-VOx, con un enfoque particular en el flujo de oxígeno y el espesor de la película. La investigación demostró que el flujo de oxígeno tiene un impacto significativo en la composición química, la rugosidad de la superficie y la capacidad de la batería. El aumento del flujo de oxígeno durante la deposición condujo a un aumento gradual en la capacidad de carga y descarga. La muestra con el mayor flujo de oxígeno (VOx-3.0) exhibió la más alta capacidad, alcanzando 298 mAh/g. Este comportamiento se atribuyó con un mayor contenido de V+5 en el material. Para mejorar la estabilidad estructural, se introdujeron defectos en el a-VOx mediante un tratamiento en atmósfera reductora con diferentes porcentajes de H2 (2%, 4%, 6% y 8% de H2). Este tratamiento, incrementó la concentración de V+4 (muestra VOx-3.0/8%H2), lo cual se encuentra relacionado con la formación de vacancias de oxígeno en las películas de óxido de vanadio.
La introducción de defectos a través del tratamiento reductor tuvo un impacto directamente en la capacidad y la ciclabilidad. La disminución de la capacidad de carga en las muestras con tratamiento en ambiente reductor es atribuida a la formación de enlaces V-OH. La presencia de estos enlaces podría hacer menos favorable la intercalación de iones litio en sitios cercanos a estos hidrógenos. Se observa una capacidad inicial más baja y una mejor estabilidad cíclica, donde a 50 ciclos a 1 C, la muestra VOx-3.0 a 8% de H2 es la que presenta la capacidad más alta a 213 mAh/g en ambiente reductor.
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Este trabajo ha sido financiado por la ANID Beca de Doctorado Nacional N°21181829
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Publisher
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Universidad de Chile
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Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States
Estudio de las propiedades electroquímicas de óxidos de vanadio preparados por pulverización catódica reactiva para su potencial aplicación como cátodos en baterías de litio
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Tesis
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Acceso abierto
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Cataloguer
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chb
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Department
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Departamento de Ingeniería Química, Biotecnología y Materiales
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Faculty
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Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas
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uchile.carrera
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Ingeniería Civil en Biotecnología
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uchile.gradoacademico
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Doctorado
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Tesis para optar al grado de Doctora en Ciencias de la Ingeniería, Mención Ciencias de los Materiales.