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Autor corporativodc.contributorUniversidad de Chile. Facultad de Ciencias.es_ES
Professor Advisordc.contributor.advisorBirstein., L.
Authordc.contributor.authorDonoso González, José Pedro
Admission datedc.date.accessioned2022-03-07T18:52:26Z
Available datedc.date.available2022-03-07T18:52:26Z
Publication datedc.date.issued1976
Identifierdc.identifier.urihttps://repositorio.uchile.cl/handle/2250/184090
Abstractdc.description.abstractEl objetivo de este trabajo es medir la vida media efectiva de los portadores en detectores de Si (Li). Decimos vida media efectiva porque la medimos en el interior del volumen del solido y no en la superficie como lo hacen generalmente los fabricantes de cristales, lo que da una medida mas realista y confiable.es_ES
Lenguagedc.language.isoeses_ES
Publisherdc.publisherUniversidad de Chilees_ES
Type of licensedc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States*
Link to Licensedc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/*
Keywordsdc.subjectPartículas cargadases_ES
Keywordsdc.subjectDetectores Si(Li)es_ES
Keywordsdc.subjectDetección de radiaciónes_ES
Títulodc.titleMedición de vida media efectiva en detectores Si (Li), para partículas cargadas.es_ES
Document typedc.typeTesises_ES
dc.description.versiondc.description.versionVersión original del autores_ES
dcterms.accessRightsdcterms.accessRightsAcceso restringidoes_ES
Catalogueruchile.catalogadorjmoes_ES
Departmentuchile.departamentoDepartamento de Físicaes_ES
Facultyuchile.facultadFacultad de Cienciases_ES
uchile.carrerauchile.carreraLicenciatura en Ciencias con mención en Físicaes_ES
uchile.gradoacademicouchile.gradoacademicoLicenciadoes_ES
uchile.notadetesisuchile.notadetesisTrabajo presentado como requisito para optar al grado de Licenciado en Ciencias con mención en Física.es_ES


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