Reducción de elementos parasitarios en lista de conexiones post-diseño para aplicaciones industriales compatibles con ESP
Professor Advisor
dc.contributor.advisor
Rivera Serrano, Francisco
Author
dc.contributor.author
Obligado Díaz, Adolfo Javier
Associate professor
dc.contributor.other
Finger Camus, Ricardo
Associate professor
dc.contributor.other
Zúñiga Acuña, Simón
Admission date
dc.date.accessioned
2022-08-01T17:04:08Z
Available date
dc.date.available
2022-08-01T17:04:08Z
Publication date
dc.date.issued
2022
Identifier
dc.identifier.other
10.58011/b4xy-5004
Identifier
dc.identifier.uri
https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/187095
Abstract
dc.description.abstract
Una vez se termina el proceso de diseñar un circuito integrado, llega la tarea de impri-
mirlo , para lo que se obtiene una lista de conexión post-diseño. Esta netlist contiene cada
uno de los elementos necesarios para el funcionamiento del circuito, pero también con los
llamados elementos parasitarios, la aparición de estos elementos responde a las distintas
interacciones y características eléctricas de los componentes del circuito.
Para ayudar en todo el proceso relacionada con el desarrollo de circuitos integrados, em-
presas se han dedicado al desarrollo de softwares especializados, entre ellas se encuentra Sy-
nopsys. Dentro de las múltiples herramientas que desarrollan se encuentra Embedded Symbolic
Processor o ESP por sus siglas en inglés, que corresponde a una herramienta de verificación
formal. Las listas de conexión post-diseño, al incorporar los mencionados elementos parasi-
tarios, traen complicaciones durante el proceso de verificación.
Este trabajo tiene como objetivo incorporar un método de reducción parasitaria que per-
mita mejorar la calidad de la verificación realizada por la herramienta ESP. Para lo anterior
todo inicia con una investigación bibliográfica, en búsqueda de los distintos métodos de reduc-
ción de orden existentes, a esto se le suma el estudio relacionado sobre la propia herramienta
y las distintas alternativas de representación de circuitos.
Luego se presenta una colaboración con otro equipo que cuenta con su propia herramienta
de reducción, esto con la idea de comprobar la mejora en el desempeño de ESP reduciendo
o eliminando elementos parasitarios. Para las pruebas relacionadas se utilizaron dos librerías
distintas, cada una con más de 150 elementos para verificar.
Avalados por los resultados entregados por la herramienta de StarRC, se da inicio al de-
sarrollo de una solución propia de ESP, en búsqueda de eliminar, no reducir, los elementos
parasitarios que se encuentran conectados entre las fuentes de voltajes del circuito y los tran-
sistores.
Los resultados la colaboración entre ESP y StarRC sorprendieron tanto que, para los
clientes que cuentes con ambas licencias, la herramienta de reducción de StarRC se incorporó
al flujo de ESP. Esta incorporación trae consigo una mejora de un %58 en los tiempos de
verificación cuando solamente se eliminan los elementos parasitarios ligados a las fuentes de
voltaje y un %99 de mejora si se realiza una reducción completa. El desarrollo e implemen-
tación de una solución propia de ESP, pensado en no depender de otra herramienta ni en las
licencias que puede tener el cliente, sigue en pie.
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Lenguage
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Publisher
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Universidad de Chile
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Type of license
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Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States