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Professor Advisordc.contributor.advisorFuentealba, Patricio
Authordc.contributor.authorDonoso Concha, Roberto Simón Luis
Admission datedc.date.accessioned2022-11-28T17:26:09Z
Available datedc.date.available2022-11-28T17:26:09Z
Publication datedc.date.issued1993
Identifierdc.identifier.urihttps://repositorio.uchile.cl/handle/2250/189448
Abstractdc.description.abstractEl presente trabajo se desarrollo un método teórico para el estudio de los procesos de captura electrónica siempre en el scattering Átomo-Ion. Para ello, la dinámica de la colisión se trato dentro de la aproximación semiclasica eikonal, en el modelo de los estados estacionarios perturbados PSS, Los núcleos electrónicos internos de los átomos e iones que participan en la colisión se presentaron mediante la técnica de potenciales efectivos.es_ES
Publisherdc.publisherUniversidad de Chilees_ES
Type of licensedc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States*
Link to Licensedc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/*
Títulodc.titleCaptura electrónica en colisiones átomo-iones_ES
Document typedc.typeActaes_ES
dcterms.accessRightsdcterms.accessRightsAcceso abiertoes_ES
Catalogueruchile.catalogadorarmes_ES
Departmentuchile.departamentoEscuela de Postgradoes_ES
Facultyuchile.facultadFacultad de Cienciases_ES


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