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Professor Advisordc.contributor.advisorSipirán Mendoza, Iván
Authordc.contributor.authorAguirre Gallardo, Isaac Andrés
Associate professordc.contributor.otherCerda Villablanca, Mauricio
Associate professordc.contributor.otherPeñafiel Aguilera, Sergio
Admission datedc.date.accessioned2025-05-13T21:21:37Z
Available datedc.date.available2025-05-13T21:21:37Z
Publication datedc.date.issued2024
Identifierdc.identifier.urihttps://repositorio.uchile.cl/handle/2250/204858
Abstractdc.description.abstractAunque existen diversos métodos de detección de simetrías, la publicación de una nueva investigación que consiste en la obtención de vectores característicos para objetos 3D, motiva a explorar si es posible obtener simetrías utilizando estas características. El principal objetivo es desarrollar una metodología robusta frente a transformaciones geométricas y eficaz en la detección de simetrías. La metodología se basa en la nueva investigación mencionada, la cual genera vectores característicos mediante imágenes tomadas en múltiples ángulos alrededor del objeto 3D. Luego se diseña un algoritmo que computa y filtra planos de simetría en base a las características obtenidas, dando prioridad a simetrías globales del objeto 3D y evaluando la calidad mediante métricas definidas. El trabajo concluye con dos alternativas para el nuevo método: uno usando el procedimiento de la nueva investigación y otro usando mejoras a la implementación de este. Se comparó el método propuesto con E3SYM y un método alternativo descrito en la literatura, utilizando métricas como exactitud angular y SDE (Symmetry Distance Error). Los resultados muestran una mejora notable en ambas métricas, lo que posiciona al método como una alternativa competitiva en la detección de simetrías en objetos 3D.es_ES
Patrocinadordc.description.sponsorshipEste trabajo ha sido parcialmente financiado por: ANID FONDECYT grant 11220211es_ES
Lenguagedc.language.isoeses_ES
Publisherdc.publisherUniversidad de Chilees_ES
Type of licensedc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States*
Link to Licensedc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/*
Títulodc.titleDetección de simetrías en objetos 3d con características retroproyectadas de imágeneses_ES
Document typedc.typeTesises_ES
dc.description.versiondc.description.versionVersión original del autores_ES
dcterms.accessRightsdcterms.accessRightsAcceso abiertoes_ES
Catalogueruchile.catalogadorchbes_ES
Departmentuchile.departamentoDepartamento de Ciencias de la Computaciónes_ES
Facultyuchile.facultadFacultad de Ciencias Físicas y Matemáticases_ES
uchile.carrerauchile.carreraIngeniería Civil en Computaciónes_ES
uchile.gradoacademicouchile.gradoacademicoLicenciadoes_ES
uchile.notadetesisuchile.notadetesisMemoria para optar al título de Ingeniero Civil en Computaciónes_ES


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