Detección de simetrías en objetos 3d con características retroproyectadas de imágenes
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Acceso abierto
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2024Metadata
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Sipirán Mendoza, Iván
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Detección de simetrías en objetos 3d con características retroproyectadas de imágenes
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Abstract
Aunque existen diversos métodos de detección de simetrías, la publicación de una nueva investigación que consiste en la obtención de vectores característicos para objetos 3D, motiva a explorar si es posible obtener simetrías utilizando estas características. El principal objetivo es desarrollar una metodología robusta frente a transformaciones geométricas y eficaz en la detección de simetrías.
La metodología se basa en la nueva investigación mencionada, la cual genera vectores característicos mediante imágenes tomadas en múltiples ángulos alrededor del objeto 3D. Luego se diseña un algoritmo que computa y filtra planos de simetría en base a las características obtenidas, dando prioridad a simetrías globales del objeto 3D y evaluando la calidad mediante métricas definidas.
El trabajo concluye con dos alternativas para el nuevo método: uno usando el procedimiento de la nueva investigación y otro usando mejoras a la implementación de este. Se comparó el método propuesto con E3SYM y un método alternativo descrito en la literatura, utilizando métricas como exactitud angular y SDE (Symmetry Distance Error). Los resultados muestran una mejora notable en ambas métricas, lo que posiciona al método como una alternativa competitiva en la detección de simetrías en objetos 3D.
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Memoria para optar al título de Ingeniero Civil en Computación
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Este trabajo ha sido parcialmente financiado por:
ANID FONDECYT grant 11220211
Identifier
URI: https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/204858
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