Medición de vida media efectiva en detectores Si (Li), para partículas cargadas.
Autor corporativo
dc.contributor
Universidad de Chile. Facultad de Ciencias.
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Professor Advisor
dc.contributor.advisor
Birstein., L.
Author
dc.contributor.author
Donoso González, José Pedro
Admission date
dc.date.accessioned
2022-03-07T18:52:26Z
Available date
dc.date.available
2022-03-07T18:52:26Z
Publication date
dc.date.issued
1976
Identifier
dc.identifier.uri
https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/184090
Abstract
dc.description.abstract
El objetivo de este trabajo es medir la vida media efectiva de los portadores en detectores de Si (Li). Decimos vida media efectiva porque la medimos en el interior del volumen del solido y no en la superficie como lo hacen generalmente los fabricantes de cristales, lo que da una medida mas realista y confiable.
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Lenguage
dc.language.iso
es
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Publisher
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Universidad de Chile
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Type of license
dc.rights
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States