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Professor Advisordc.contributor.advisorMena Mena, Faustoes_CL
Authordc.contributor.authorNavarrete Moreno, Francisco José es_CL
Staff editordc.contributor.editorFacultad de Ciencias Físicas y Matemáticases_CL
Staff editordc.contributor.editorDepartamento de Ingeniería Eléctricaes_CL
Associate professordc.contributor.otherReyes Guzmán, Nicolás
Associate professordc.contributor.otherBronfman Aguiló, Leonardo 
Admission datedc.date.accessioned2012-09-12T18:18:27Z
Available datedc.date.available2012-09-12T18:18:27Z
Publication datedc.date.issued2011es_CL
Identifierdc.identifier.urihttps://repositorio.uchile.cl/handle/2250/104301
Abstractdc.description.abstractEste trabajo de título tiene como objetivo diseñar y construir un sistema de caracterización de transistores HEMT. Este sistema tiene como n determinar el comportamiento de transistores candidatos a ser utilizados en el diseño de ampli cadores de bajo ruido para receptores de antenas radioastronomicas que operen en Banda 1 del proyecto ALMA. Como parte de este sistema se diseñaron y construyeron dos módulos, un módulo Bias Tee y un sistema de calibración TRL. El módulo Bias Tee permite acoplar, por un mismo canal, la señal proveniente del VNA y la polarización para entregarlas al transistor. El módulo de calibración TRL permite descontar de la medicion de parámetros S del transistor, el efecto del resto de los elementos que forman el sistema de caracterización. Además, se desarrolló un software que a partir de los datos obtenidos del transistor calcula sus parámetros S. Al realizar las mediciones del módulo Bias Tee y del sistema de calibración, estas diferían del comportamiento que mostraban las simulaciones. En el caso del Bias Tee se encontró que la mayor parte de la señal incidente en el módulo se refleja. En el caso del sistema de calibración, se genera una calibración exitosa pero altamente sensible a las modi caciones en el montaje, lo que no permite obtener una calibración estable para medir el transistor. Al analizar los problemas descritos, se identi có que el elemento común en ambos módulos son los conectores 2.4 mm que se utilizan a la entrada y salida de ambos módulos. Se encontró que el montaje de estos conectores no es el más idóneo. Como alternativa, se estudia un diseño alternativo llamado montaje de adaptación. Las simulaciones indican que las reflexiones son menores a -20 dB, lo que representa mejores resultados que el montaje simple. En conclusión, este trabajo ha permitido identi car problemas no previstos en la caracterización del transistor de prueba. Se espera que al cambiar el método de montaje de los conectores 2.4 mm el sistema diseñado funcione correctamente.
Lenguagedc.language.isoeses_CL
Publisherdc.publisherUniversidad de Chilees_CL
Publisherdc.publisherCyberDocses_CL
Type of licensedc.rightsNavarrete Moreno, Francisco Josées_CL
Keywordsdc.subjectElectricidades_CL
Keywordsdc.subjectTransistoreses_CL
Keywordsdc.subjectAstronomíaes_CL
Keywordsdc.subjectRadioastronomíaes_CL
Keywordsdc.subjectTransistores HEMTes_CL
Títulodc.titleCaracterización de Transistores Hemt en Banda Qes_CL
Document typedc.typeTesis


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