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(Universidad de Chile, 2015)En el presente trabajo se calcula la resistividad eléctrica de una muestra metálica, bajos los efectos combinados de dispersión de electrones por impurezas distribuidas, bordes de grano aleatoriamente distribuidos y una ...
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(AMER PHYSICAL SOC, 2010-09-23)The resistivity of metallic structures depends on both electron-grain boundary scattering and electron-surface scattering. By tuning the grain size, we have been able to separate the contribution to the resistivity ...
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(Universidad de ChilePrograma Cybertesis, 2007)
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(Universidad de Chile, 2010)En este trabajo se exponen las primeras medidas de magnetorresistencia en películas de oro depositadas sobre mica en la configuración de MacDonald. En esta configuración el campo eléctrico es ortogonal al campo magnético ...
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(Universidad de ChileCyberDocs, 2011)
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(2007)The efficiency of shape memory alloy (SMA) as damper and/or standard actuator is truly enhanced when the material can be cycled without any relevant accumulation of the permanent deformation (i.e. under 0.5% for several ...
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(2013)Surface coastal observations from two automatic weather stations at Paposo ( 25 S) and radiosonde observations at Paposo and Iquique ( 20 S) were carried out during VOCALS-REx (VAMOS Ocean-Cloud-Atmosphere- Land Study ...
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(Universidad de Chile, 2012)Se presentan dos trabajos independientes desarrollados en paralelo, el primero corresponde al cuerpo de la memoria, dirigido por el profesor Raúl Muñoz A. El segundo se expone en el apéndice A, dirigido por la profesora ...
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(Universidad de Chile, 2014)En esta tesis se presenta el diseño e implementación de un sistema que permite preparar películas delgadas metálicas, mediante el método de evaporación por haz de electrones, controlando la temperatura de sustrato al momento ...
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(Universidad de ChileCyberDocs, 2010)
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(Universidad de ChilePrograma Cybertesis, 2008)En esta tesis se estudia el fenómeno que es conocido en la literatura como “efectos de tamaño y geometría en fenómenos de transporte”. En específico se estudia de qué manera la superficie rugosa, que limita la estructura ...
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(ELSEVIER, 2005-03-16)A central question regarding thin metallic films is how does the roughness of the film affect its electrical transport properties, when its thickness is comparable to or smaller than the electron mean free path. The drive ...
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(Elsevier, 2014)tWe report new experimental data regarding the transverse magnetoresistance measured in a family ofthin gold films of different thickness with the electric field E oriented perpendicular to the magnetic field B(both fields ...
