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Resistividad, Magnetorresistencia Transversal y Voltaje de Hall, Inducido por Scattering Electrón-Superficie, en Películas Delgadas de Oro Depositadas en Alto Vacío sobre Sustratos de Mica

Tesis
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Iconramirez_ab.pdf (6.744Mb)
Publication date
2008
Metadata
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Cómo citar
Muñoz Alvarado, Raúl
Cómo citar
Resistividad, Magnetorresistencia Transversal y Voltaje de Hall, Inducido por Scattering Electrón-Superficie, en Películas Delgadas de Oro Depositadas en Alto Vacío sobre Sustratos de Mica
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Author
  • Ramírez Bustamante, Adán Esteban;
Professor Advisor
  • Muñoz Alvarado, Raúl;
Abstract
En esta tesis se estudia el fenómeno que es conocido en la literatura como “efectos de tamaño y geometría en fenómenos de transporte”. En específico se estudia de qué manera la superficie rugosa, que limita la estructura metálica, afecta a las propiedades de transporte de carga cuando una o más de las dimensiones que caracterizan la estructura metálica se tornan comparables o inferiores al camino libre medio l de los portadores de carga en el grueso. Se analiza la teoría de transporte de Calecki, que proporciona una solución numérica para los coeficientes de transporte eléctrico como son la resistividad, la tangente de Hall y la magnetorresistencia transversal. La teoría de Calecki considera el efecto de scattering electrón-superficie rugosa desde primeros principios, usando el formalismo de la ecuación semiclásica de transporte de Boltzmann. El resultado es que la teoría proporciona una descripción adecuada de la resistividad en función de la temperatura, una descripción aceptable de la tangente de Hall en función del campo magnético a 4 K, pero predice una magnetorresistencia transversal a 4 K que es varios órdenes de magnitud menor que lo observado.
Identifier
URI: https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/101941
Collections
  • Tesis Postgrado
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