Magnetorresistencia en películas delgadas de oro

Abstract

Este trabajo da cuenta de la medición de magnetorresistencia longitudinal (campo eléctrico paralelo al campo magnético) y la magnetorresistencia en la configuración MacDonal (campo eléctrico perpendicular al campo magnético, ambos contenidos en el plano de la muestra), en películas de oro (con una pureza inicial a¡tes de Ia depositación de,¿n 99,9999%o) depositadas en una cámara de alto vacío sobre sustratos de mic4 de espesores: 69 nm, 93 nm, 150 nm, 185 nm. La importancia de este trabajo radica en el hecho de que, tarto la magnetorresistencia longitudinal como la magnetorresistencia en la configuración de MacDonald, aumentan con el espesor de la muestra. Por lo tanto, estos experimentos confirman que la magnetorresistencia en ambos casos está determinada por el proceso de scattering electrón - superficie rugosa.