Resistividad eléctrica de películas delgadas y alambres finos
Professor Advisor
dc.contributor.advisor
Ressler Bonzi, Jaime
Author
dc.contributor.author
Moraga Jaramillo, Luis Alberto
Admission date
dc.date.accessioned
2023-03-20T18:41:21Z
Available date
dc.date.available
2023-03-20T18:41:21Z
Publication date
dc.date.issued
1987
Identifier
dc.identifier.uri
https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/192211
Abstract
dc.description.abstract
Mediante teoría de perturbación de orden infinito, se ha calculado la función de
onda y las corrientes cuánticas promediadas para un electrón en las vecindades
de una superficie rugosa. Las rugosidades se suponen caracterizadas
estadísticamente como un proceso gausslano con una amplitud RMS y una
longitud de correlación transversal dadas. Se estudia sucesivamente el caso en
que la superficie es una interfaz metal-vacío y metal-metal, y los resultados
cuánticos se utilizan para deducir condiciones de frontera para la ecuacton de
transporte de Boltzmann en el espíritu de las condiciones de Fuchs. A partir de
estos resultados, se estudia la conductividad eléctrica de películas delgadas y
alambres finos de sección circular, los efectos termoeléctricos
correspondientes, y la conductividad eléctrica de películas con sobrecapas
metálicas. Los resultados teóricos se contrastan, por último, con las
mediciones recientes de resistividad eléctrica en películas y laminas delgadas
de aluminio realizadas por Sambles et al (1982).
Patrocinador
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Proyectos FONDECYT DIB E-22437-8723 y 0619
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Lenguage
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Publisher
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Universidad de Chile
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Type of license
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Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States